- الصفحة الرئيسية /
- الكتب /
- Engineering & Transportation /
- Engineering /
- Materials & Material Science /
- Materials Science /
- Computed Electron Micrographs And Defect Iden...
0 ratings
منتج #:
268604253
Computed Electron Micrographs And Defect Identification (Defects in Crystalline Solids)
منتج #:
268604253
QAR 350
تفاصيل السعر
باستثناء رسوم الشحن والجمارك ( سيتم احتساب رسوم الشحن والجمارك عند إتمام الشراء )
*سيتم استيراد جميع العناصر من أمريكا
0 ratings
اكتب رأيك
متوفر فى المخزون
مستورد من متجر USA
كمية:
هذا المنتج لا يشحن من قبل يوباي ويمكن أن يستغرق 10 أيام على الأقل في التسليم. قد نقوم بإلغاء المنتج من الطلب واسترداد أموالك إذا ظهرت أي مشكلة في تسليم هذا المنتج.
معاملة آمنة
تعمل يوباي جاهدة لحماية أمنك وخصوصيتك. يضمن نظام أمان الدفع المتقدم لدينا السرية من خلال تشفير معلوماتك أثناء النقل باستخدام بروتوكولات AES (معايير التشفير المتقدمة) وSSL (طبقة المنافذ الآمنة). تفاصيل الدفع الخاصة بك آمنة بنسبة %100 لأننا لا نشارك تفاصيل الدفع الخاصة بك مع بائعين تابعين لجهات خارجية
أفضل شركائنا اللوجستيين
Computed Electron Micrographs and Defect Identification is invaluable for post-graduate students and researchers using transmission electron microscopy.
شحن
سريع
استرجاع
مجاني*
تغليف آمن
منتجات أصلية %100
الامتثال لمعيار PCI DSS
حاصل على شهادة ISO 27001
Note: Step Down Voltage Transformer required for using electronics products of أمريكا store (110-120). Recommended power converters اشتري الآن.
تفاصيل المنتج
- Computed Electron Micrographs and Defect Identification illustrates a technique for identifying defects in crystalline solids by the comparison of their images, which are produced in the electron microscope, with corresponding theoretical images. This book discusses the diffraction of electrons by a crystal; the two-beam dynamical equations; the absorption parameters; the deviation of the crystal from the Bragg reflecting position; the extinction distance; the displacement vector; and the foil normal. Chapter three presents the experimental techniques for determination of beam direction, defect line normal, foil normal, foil thickness, and extinction distance. Chapters four to seven explore ONEDIS and TWODIS and their principles. Chapters eight and nine focus on the application and limitations of the technique, while the last chapter explores the different computer programs related to the technique. Post-graduate students, as well as researchers using transmission electron microscopy for studying defects in crystalline solids, will find this book invaluable.
| Publisher | North Holland |
| Publication date | December 2, 2012 |
| Language | English |
| File size | 54.8 MB |
| Enhanced typesetting | Not Enabled |
| X-Ray | Not Enabled |
| Word Wise | Not Enabled |
| Print length | 406 pages |
| Format | Print Replica |
| ISBN-10 | 9781299537248 |
| ISBN-13 | 978-0444601476 |
| Page Flip | Not Enabled |
| Item Weight | 2.5 lbs (1.13 kg) |
وصف المنتج
Computed Electron Micrographs And Defect Identification (Defects in Crystalline Solids)
هل لديك أي استفسار؟ تحدث معنا
أسئلة العملاء & الإجابات
-
سؤال:
كيف تتسوق Computed Electron Micrographs And Defect عبر الانترنت من يوباى?
إجابه: من السهل التسوق في Computed Electron Micrographs And Defect عبر الإنترنت من يوباي. كل ما عليك فعله هو البحث عن المنتج واختيار طريقة الشحن الخاصة بك أثناء الدفع وسيتم توصيله الى عنوانك -
سؤال:
هل Computed Electron Micrographs And Defect متوفر للتسوق عبر الإنترنت في Qatar؟
إجابه: نعم ، في يوباي Qatar هذا المنتج متاح لك للتسوق بسعر مناسب. Computed Electron Micrographs And Defect غير متوفر محليًا ولكن يمكنك الوثوق بنا بخدماتنا للشحن السريع. -
سؤال:
كم من الوقت يستغرق الحصول على المنتج بعد تقديم الطلب؟
إجابه: يختلف وقت تسليم المنتج الذي طلبته حسب ما طلبته وطريقة الشحن التي اخترتها. يتم ذكر وقت التسليم المقدر أثناء عملية الدفع ، لذا كن مرتاحًا أثناء التسوق.
Materials Science Editorial Review
لم يتم العثور على مراجعات تحريرية
مراجعات العملاء وتقييماتهم
1 تقييمات العملاء
-
5 نجمة
100%
-
4 نجمة
0%
-
3 نجمة
0%
-
2 نجمة
0%
-
1 نجمة
0%
أضف تقييم لهذا المنتج
شارك أفكارك مع عملاء آخرين
منصة موثوقة وثقة كاملة للمشتري
HA
hamza
مشتري موثّق
“Timely delivery and transparency”
19 February 2026 · عبر Trustpilot
LR
Leon
مشتري موثّق
“The delivery time exceeded my expectation. The product was secured packaged.”
20 July 2026 · عبر Trustpilot
P
pugzy
مشتري موثّق
“Thank you very much Items very clean and like new nice service and very fast delivery Best Regards.”
27 July 2026 · عبر Trustpilot
CD
Cristopher
مشتري موثّق
“I am satisfied.”
02 September 2026 · عبر Trustpilot
K
kunde
مشتري موثّق
“Thank you very much for the great service, great product and great shipping. I wish you more progress and thank you.”
02 October 2026 · عبر Trustpilot
لماذا تتسوق معنا؟
الخروج الآمن
شحن عالمي
إسترجاع سهل
منتجات أصلية
تاريخ سعر المنتج
معلومات مهمة
- القيود: بالنسبة للمنتجات التي يتم شحنها دولياً، يُرجى ملاحظة أن أي ضمان من الشركة المصنعة قد لا يكون صالحاً؛ قد لا تتوفر خيارات خدمة الشركة المصنعة؛ قد لا تكون أدلة المنتج والتعليمات وتحذيرات السلامة مكتوبة بلغة بلد المقصد؛ قد لا يتم تصميم المنتجات (والمواد المصاحبة لها) وفقاً لمعايير بلد الوجهة والمواصفات ومتطلبات الملصقات؛ وقد لا تتوافق المنتجات مع الجهد الكهربي المستخدم في بلد الوجهة والمعايير الكهربائية الأخرى (تتطلب استخدام محوّل كهربي أو جهاز تحويل إذا كان ذلك مناسباً). المستلم مسؤول عن ضمان إمكانية استيراد المنتج بشكل قانوني إلى بلد الوجهة. عند الطلب من يوباي أو الشركات التابعة لها، يكون المستلم هو المستورد المسجل ويجب أن يلتزم بجميع القوانين واللوائح الخاصة ببلد الوجهة.
- ليست كل المنتجات المدرجة على يوباي معروضة للبيع، لأن يوباي هو محرك بحث عالمي. المنتجات تخضع للوائح التصدير / التجارة.
QAR 350
هذا المنتج لا يشحن من قبل يوباي ويمكن أن يستغرق 10 أيام على الأقل في التسليم. قد نقوم بإلغاء المنتج من الطلب واسترداد أموالك إذا ظهرت أي مشكلة في تسليم هذا المنتج.
هذا المنتج غير ممنوع في بلدي. (الرجاء الضغط على الرابط أعلاه إذا لم يكن هذا المنتج ممنوعاً في بلدك ، لذلك سيقوم فريقنا بمراجعته والسماح به.)
كمية:
معاملة آمنة
نوفر لك مدفوعات مشفّرة، وحماية متكاملة للمشتري، مع الالتزام بمعايير PCI DSS وشهادة ISO 27001:2022 لضمان أعلى مستويات الأمان في كل عملية شراء.
أفضل شركائنا اللوجستيين
أسرع توصيل عبر الحدود
المميزات والفوائد
- Illustrates defect identification in crystalline solids.
- Compares electron microscope images with theoretical images.
- Covers electron diffraction and two-beam dynamical equations.
- Includes experimental techniques for beam direction determination.
- Explores ONEDIS and TWODIS principles.
- Analyzes applications, limitations, and related computer programs.
ضمان Ubuy
تسوّق بثقة مع منتجات أصلية %100، ومدفوعات آمنة متوافقة مع معيار PCI DSS، وحماية بيانات معتمدة وفق ISO 27001، وشحن دولي سريع، وإرجاع مجاني*، وتغليف آمن لكل طلب.